冷热冲击试验箱用于电子元器件、仪器仪表和其他电工电子产品要经受温度迅速变化的能力，其所需的暴露时间，取决于试验样品的性质。冷热冲击试验箱工作原理是：高温箱和低温箱在准备状态可以设置较试验温度更的温度条件，低温箱试验时，低温箱门开启与测试箱组成试验工作空间，进行低温试验，转换进入高温试验时，低温箱门关闭，高温箱们开启与测试箱组成新的试验工作空间，转换的机械动作在小于1s即可完成，温度也可较快稳定，在整个试验过程中受试样品始终不被移动，也无须人工干预。

温度变化试验分为三类: 

1.规定转换时间的快速温度变化试验,转换时间分为:2～3min,20～30s,<10s 

2.规定温度变化速率的温度变化试验，试验箱的温度升降变化速率（不超过５min内的平均值）应为1± 0.2℃ /min, 3± 0.6℃ /min, 5± 1℃ /min  
3.两液槽温度快速变化试验，产生一种急剧的热冲击,适用于玻璃-金属密封及类似的试验样