技术文章您的位置:网站首页 >技术文章 > 步入式高温老化房在电子元器件加速老化测试中的应用要点
步入式高温老化房在电子元器件加速老化测试中的应用要点
更新时间:2026-10-30   点击次数:7次

电子产品出厂前老化筛选,是提前暴露元器件虚焊、耐热失效、稳定性缺陷的常用手段,武汉安德信步入式高温老化房凭借大容积、可批量放料的优势,广泛用于新能源电芯、车载电子、通信模块、PCB 板的高温老化试验。

武汉安德信步入式高温老化房

和小型试验箱相比,步入式老化房支持整托盘产品同时测试,内部风道循环设计,保障腔体内温度均匀,避免局部温差造成测试结果偏差。设备内胆多采用 SUS304 不锈钢,长期高温环境不易氧化生锈,适合长时间不间断老化运行。

选型时重点关注几个指标:温度控制范围、温度均匀度、升温速率、安全防护配置。超温保护、独立温控报警、开门断电是基础安全配置;长期无人值守测试场景,还可选配数据记录、远程监控功能。

武汉安德信步入式高温老化房支持非标尺寸定制,可根据客户样品托盘、产能需求规划内部腔体,配套独立电控系统,适配汽车电子、光电子、通信行业双 85、高温耐久等老化测试方案,可提供现场调试与技术培训服务。


Copyright © 2019 武汉安德信检测设备有限公司 All Rights Reserved.  网站地图  鄂ICP备15021322号-2  管理登陆  技术支持:化工仪器网
在线客服 二维码

扫一扫,关注我们